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    產品|二手機|公司|采購|資訊

    用于偏光的 Axio Imager 2

    參考價面議
    具體成交價以合同協(xié)議為準
    • 公司名稱上海伊豐精密儀器有限公司
    • 品       牌
    • 型       號
    • 所  在  地
    • 廠商性質經(jīng)銷商
    • 更新時間 2020-08-07
    • 訪問次數(shù)233
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    上海伊豐精密儀器有限公司,注冊地點在上海市靜安區(qū),經(jīng)營地點位于上海市閔行區(qū),是經(jīng)國家相關部門正式批準注冊的一般納稅人企業(yè)。主營產品涵蓋:幾何測量、力學檢測、光學檢測、無損檢測、環(huán)境測試、電學測試、化學試驗、其他通用儀器儀表等多個領域。上海伊豐擁有由多名經(jīng)驗豐富的技術工程師組成的技術支持及服務團隊,和專業(yè)素質良好的銷售團隊,提供各類精密檢測設備及相關服務。 豐富的供應商資源 代理經(jīng)營品牌包含:海克斯康,Mahr,ZEISS,F(xiàn)ischer,F(xiàn)LUKE ,三豐,Nikon,GE,GEN3,日置,奧林巴斯,瑞士TRIMOS,RASSON,WYLER,基恩士,Renishaw,Metronelec,中旺量儀 Sinowon,深圳古安特,昆山邁格,東莞特馬,貴陽新天,西安納諾,北京時代,上海尚材,青島美舸,成量,哈量,怡信,萬濠等,并與各中外精密儀器儀表制造商擁有*良好的合作關系。 優(yōu)質的客戶資源 優(yōu)質的客戶資源 通過多年的積累,上海伊豐公司憑借優(yōu)質的產品、完善的服務和良好的口碑成為各企業(yè)的*供應商,與上汽集團,上海電氣集團,商飛集團,貴航集團,中國航天集團,上海航天研究院,上海市測繪院,科世達KOSTAL,延鋒江森YFJC/JCYM,西門子電機Siemens,匯眾汽車,德爾福DELPHI,薩克斯汽車零部件,李爾汽車零部件Lear,TCL集團,人本軸承,河村電氣Kawamura,能率NORITZ,上海海立,上海理光RICOH,上海銳奇工具,新大洲本田,寧波韻升集團,南京中船,昆山林泉電機,上海江南造船廠,上海滬東中華造船,同濟大學,上海理工大學,上海交大,上海大學,上海市質檢院,上海市*等等多家大型企業(yè)、科研院所及高校和中小企業(yè)等建立了良好的合作關系,我公司已經(jīng)進入以上大部分企業(yè)*供應商體系。 上海伊豐公司本著為客戶創(chuàng)造價值的宗旨,用日益成熟的技術,品質優(yōu)良的產品,靈活專注的解決方案,為客戶提供完善的服務、做優(yōu)質供應商。 服務標準:嚴謹,細致,高效,奉獻。 經(jīng)營理念:誠信,合作,創(chuàng)新,共贏。 企業(yè)目標:成為技術服務公司、產品供應商,為用戶提供專業(yè)技術支持及解決方案。 企業(yè)宗旨:創(chuàng)精密品質 樹優(yōu)質品牌 上海伊豐期待與您*合作,愿與您攜手共進,創(chuàng)造輝煌。
    影像儀,硬度計,檢測儀,投影儀
    用于偏光的 Axio Imager 2 程序簡便、操作可靠您是否正在尋找一款能夠完成復雜任務、生成可靠檢測結果且易于操作的顯微鏡?那么用于偏光顯微觀察的智能型 Axio Imager 將是您的滿意之選。不同種主機架可供選擇編碼型、部分電動型或全電動型主機組合搭配,滿足您的個性化需求。
    用于偏光的 Axio Imager 2 產品信息

    特點:

    自動組件識別技術值得信賴

    自動組件識別(Automatic Component Recognition ACR)技術,使您方便的使用顯微鏡設置。所有電動主機架能夠自動識別物鏡。此外,ACR 技術還能在全電動 Z 系列主機中識別反射光模塊。系統(tǒng)能自動對組件的變換進行登記。

    無振動設計確保可靠的長時間成像

    借助 Axio Imager 出色的穩(wěn)定性得以實現(xiàn)可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉盤、z 軸升降臺和載物臺被設計為一個緊湊式無振動單元,獨立于主機架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結構設計能夠創(chuàng)建理想的測量條件,以獲得超高質量的觀測結果。

    擴展功能令操作更舒適

    簡化復雜程序。通過主機架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動化組件。

    保存?zhèn)€性化設置并實現(xiàn)一鍵還原。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學設計的觸控式按鈕。

    或者通過任意擺放的控制面板(可*與主機架分離)來操作偏光顯微系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動選擇合適的設置,以生成可重現(xiàn)且可靠的觀測結果。

     

    方法:

    錐光觀察技術:使用偏光顯微鏡可以實現(xiàn)快速可靠的晶體結構分析

    偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準線和可變光闌同時可見。通過調節(jié)型可變光闌能夠將錐光觀測范圍縮小至.小 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrand 光路方便開關。這一特性讓您在不同技術之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設備時。

    始終如一的測量性能

    • 借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標尺的旋轉、球軸安裝式載物臺可以輕松實現(xiàn)測量,(例如:用于測量礦物的解理角)
    • 光程差測定或應變測量
    • 大量光譜補償器可選,涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。

    固定光程差的補償器

    • 全波片 λ
    • 四分之一波片 λ / 4
    • 全波片 λ,可旋轉角度 +/- 8°

    具有可變光程差的補償器

    • 光楔補償器 0-4 λ
    • 測量補償器
    • - Berek 傾斜補償器 0-5 λ
    • - Berek 傾斜補償器 0-30 λ

    Axio Imager 還可提供更多方法,例如:

    • 熱顯微技術
    • 使用蔡司 AxioVision 軟件進行數(shù)字分析(例如:晶粒度分析或顆粒度分析)
    關鍵詞:顯微鏡

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