NanoScan高精密粗糙歸納度測(cè)量?jī)x可以在一個(gè)測(cè)量流程內(nèi)組合測(cè)量粗糙度和歸納,柔性大,可以滿(mǎn)足表面測(cè)量技術(shù)的一切需求,既省時(shí),又省費(fèi)用。
首要特征
?電子測(cè)頭臂識(shí)別技術(shù)?超精密的光機(jī)探測(cè)系統(tǒng)
?探測(cè)頭的電子保護(hù)裝置?通用性好
?電子調(diào)度探測(cè)力?極富人性化的規(guī)劃
?高精度的測(cè)頭臂定位?測(cè)頭臂的選擇規(guī)劃廣
?可上下測(cè)量?專(zhuān)ye的技術(shù)
?校準(zhǔn)方法簡(jiǎn)單
?新的點(diǎn)評(píng)可能:可上下測(cè)量,測(cè)量工件表面描摹時(shí)的測(cè)量行程大