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Dantsin-ZMIKE臺式外形尺寸激光測徑儀，測量精度高，測量速度快，可單次或連續(xù)測量，可滿足不同測量應(yīng)用領(lǐng)域。與傳統(tǒng)的接觸式外形幾何尺寸測量比較，BenchMike采用了激光非接觸測量原理。對原始測量數(shù)據(jù)自動采集、處理，數(shù)字顯示等技術(shù)，降低了由于測量方法及測量人員造成的誤差。從而提高了測量的精度。友好界面的顯示控制軟件及多種接口用于數(shù)據(jù)及通訊，將使用者從繁重的測量中解放出來。特別是對于一些柔軟、易碎、輻射、高精度要求等傳統(tǒng)接觸測量束手無策的被測量任務(wù)，BenchMike可提供滿意的測量。
主要特點(diǎn)：
◆ 測量精度高，測量速度快。可滿足不同測量應(yīng)用領(lǐng)域
◆ 豐富的測量模式滿足不同的測量應(yīng)用
◆ 采用了全新數(shù)據(jù)處理技術(shù)，圖形用戶交互(GUI)界面、快捷按鍵使測量更直觀，操作更便利
◆ 具有測量應(yīng)用庫及自編輯被測量功能，配合夾具及多種輸入/出口，使儀表具備良好的測量擴(kuò)充能力
◆ 單點(diǎn)及雙點(diǎn)自動校準(zhǔn)功能，減少了使用條件的變化對測量的影響，使儀表維護(hù)更方便
測量原理：?
采用激光掃描原理進(jìn)行測量，如右圖所示，激光發(fā)生裝置產(chǎn)生的激光，照射在馬達(dá)驅(qū)動的高速旋轉(zhuǎn)棱鏡上，通過發(fā)射透鏡組在測試區(qū)間中形成標(biāo)準(zhǔn)掃描平行光束，測試區(qū)間中的被測量物體遮擋光束形成的陰影，會在光電收集端形成信號的階躍，階躍寬度及位置決定了被測量物體的直徑及在測試區(qū)間位置等參數(shù)。
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型 號? 測量范圍 重復(fù)性? 線性誤差 測量光斷面高度 測量光斷面景深? 光點(diǎn)尺寸 掃描光速率
? mm μm μm ?mm ? mm μm 次/秒
4025S 0.10 - 25.4? ±0.30 ±0.9056.1 ?±1.5 x 25 125?100
4025G 0.10 - 25.4? ±0.13 ±0.50? 56.1 ±1.5 x 25 125?100
4050S 0.25 - 50 ±0.50 ±1.50? 77.5 ±3 x 50 250?100
4050G 0.25 - 50 ±0.25 ±0.76? 77.5 ±3 x 50 250?100
4100HP? ?2.50 - 100 ±0.30 ±0.8-- ?--250?500
4120C 2.50 - 112? ?±0.50 ±5.0 ?-- ?-- 250?500
4120F 0.25 - 115? ?±0.80 ±5.0 ?-- --250 500
4120HP 0.25 - 115 ±0.50 ±3.8-- -- 250 500
4130C ?0.25 - 130±0.80 ±5.0 ?-- -- 250 500
2050 0.36 - 50 ±0.64 ±2.5 ?-- ?--250 500
2100 1.30 - 100 ±1.50 ±6.4 -- --250 500
2140 ?0.76 - 140±5.00 ±20 ?-- -- 250?500
2190 1.10 - 190 ±7.50 ±25?-- --250?500
2330 6.35 - 330 ±12.0 ±76 -- ?-- 250?500
應(yīng)用示例：
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