輕松測(cè)量不可見之處
蔡司METROTOM工業(yè)CT適用于塑料制品及輕金屬部件的測(cè)量及檢測(cè)，傳統(tǒng)上對(duì)于零部件需借助于耗時(shí)的層層剖切破壞后方可檢測(cè)內(nèi)部隱藏結(jié)構(gòu)，而蔡司METROTOM則可輕易可視化隱藏的結(jié)構(gòu)，無(wú)需進(jìn)行復(fù)雜的裝夾操作。
蔡司METROTOM OS - 用戶友好性及功能強(qiáng)大
通過蔡司METROTOM OS簡(jiǎn)短培訓(xùn)使用人員即可對(duì)零件進(jìn)行斷層掃描，并可窺探零件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。此軟件亦對(duì)有一定經(jīng)驗(yàn)的使用人員提供多樣化過濾器及偽影處理功能。斷層掃描數(shù)據(jù)可用于不同的評(píng)定及3D可視化。
基于蔡司CALYPSO的測(cè)量與評(píng)定
蔡司CALYPSO作為*的坐標(biāo)測(cè)量軟件廣泛用于多樣化的量測(cè)與評(píng)定。正如蔡司橋式測(cè)量機(jī)，尺寸、形狀及位置的專業(yè)分析評(píng)定并不受限，具有一定經(jīng)驗(yàn)的蔡司CALYPSO用戶只需按照熟悉的步驟即可完成METROTOM數(shù)據(jù)的評(píng)定。用于橋式測(cè)量機(jī)的CALYPSO程序可導(dǎo)入METROTOM數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果的直接可比性。
蔡司體積可視化與分析
您可借助于蔡司CT可視化軟件或第三方程序?qū)Σ趟綧ETROTOM的體積數(shù)不清據(jù)進(jìn)行3D檢測(cè)與評(píng)定。
例如，快速獲取縮孔的空間分布及隱藏缺陷。
一次掃描，隨時(shí)評(píng)估
相關(guān)體積數(shù)據(jù)存檔若干年后仍可訪問及評(píng)定，例如，對(duì)于退回的產(chǎn)品，可追溯于發(fā)貨時(shí)是否已存在缺陷。
不妥協(xié)的可靠測(cè)量
蔡司METROTOM 借助于的校準(zhǔn)方法, 提供符合VDI/VDE 2630規(guī)范、可追溯的測(cè)量精度。無(wú)需通過額外傳感器的參考測(cè)量或通過有限的量規(guī)進(jìn)行額外校正。蔡司METROTOM實(shí)現(xiàn)了測(cè)量的簡(jiǎn)單、快速與可靠。
所有部件的計(jì)量能力

可靠的直線導(dǎo)軌及軸承技術(shù)與其它蔡司測(cè)量機(jī)一致, 確保蔡司METROTOM的高精度及重復(fù)性。所有的移動(dòng)軸經(jīng)CAA修正, 即移動(dòng)與旋轉(zhuǎn)軸均具有高精度測(cè)量能力。同時(shí), 3D體積計(jì)算時(shí)亦考慮相關(guān)幾何偏差。射線管與探測(cè)器組件特針對(duì)計(jì)量應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化,測(cè)量期間,可捕獲焦點(diǎn)位置并進(jìn)行相應(yīng)的補(bǔ)償。并通過探測(cè)器對(duì)像素的極小位置偏差進(jìn)行修正。

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