日立石墨爐原子吸收分光光度計Z-2700簡單介紹
日立Z-2700型石墨爐原子吸收分光光度計操作更簡單、靈敏度更高、分析結(jié)果更可靠，這就是Z-系列偏振塞曼原子吸收分光光度計的設(shè)計理念。共有三種型號可供選擇（Z-2000、Z-2300和Z-2700），滿足您鎏囟ㄐ棖蟆Ⅻbr />
日立石墨爐原子吸收分光光度計Z-2700儀器特點
1、質(zhì)量優(yōu)--采用塞曼法和雙檢測器方式，靈敏度。
2、結(jié)構(gòu)緊湊---減少安裝空間（Z-2300和Z-2700）。
3、設(shè)計實用---修長形設(shè)計，內(nèi)置石墨爐自動進(jìn)樣器。
4、偏振塞曼模式具有噪音低和穩(wěn)定性高等特點，火焰分析和石墨爐模式兩者均采用偏振塞曼模式。
5、無需移動材料室或調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)即可獲得高度精確的分析結(jié)果。
6、靈敏度
采用光學(xué)系統(tǒng)和改良石墨爐電源電路提高了儀器的靈敏度。安裝普通的空心陰燈，Z-2000偏振塞曼原子吸收分光光度計就能夠分析自來水和環(huán)境水中所含的砷、硒、銻元素，而在這之前只能使用無放電燈ELD才能測定（高強度）。
日立石墨爐原子吸收分光光度計Z-2700技術(shù)參數(shù)
項目 | Z-2000 | Z-2300 | Z-2700 |
分析方法 | 火焰/石墨爐 | 火焰 | 石墨爐 |
測定模式 | 原子吸收和火焰測光 | 原子吸收分光光度計 | |
光學(xué)系統(tǒng) | 雙光束方法（偏振塞曼模式） | ||
背景校正 | 偏振塞曼模式 | ||
分光器 | |||
類型衍射光柵 | 澤尼爾-塔那型，1800線/mm，閃耀波長200nm。 | ||
波長范圍，設(shè)置 | 190nm至900nm，自動峰尋設(shè)置。 | ||
焦距，色散率倒數(shù) | 400mm，1.3nm/mm。 | ||
光譜帶寬 | 4檔（0.2、0.4、1.3、2.6nm） | ||
探測器 | 2個光電倍增管 | ||
光源e | |||
燈數(shù) | 8燈（旋轉(zhuǎn)燈架），2燈同時照射。 | ||
燈位置設(shè)定 | 燈位自動設(shè)定，自動微調(diào)。 | ||
火焰部分 | |||
偏振塞曼磁場強度 | 0.9T磁場 | - | |
燃燒頭 | 預(yù)混合魚尾燃燒頭式 | - | |
點火方法 | 自動點< | - | |
燃燒條件設(shè)定 | 數(shù)控組閥自動設(shè)置燃燒條件，定量輸出氣體流量 | - | |
安全檢測功能 | 光學(xué)火焰檢測、火焰?zhèn)鞲衅麇e誤檢測、燃油/輔助氣壓檢測、廢液液面檢測、冷卻水流量檢測、回火緩沖、斷電時助燃?xì)饩彌_罐具有防止回火功能、*安全系統(tǒng)。 | - | |
石墨爐部件 | |||
偏振塞曼磁場強度 | 1.0T磁場 | - | 1.0T磁場 |
溫度控制 | 50至2800 ，過流保護(hù) | 50至2800 ，過流保護(hù) | |
加熱電源控制 | 光學(xué)溫度控制，電流加熱控制 | 光學(xué)溫度控制，電流加熱控制 | |
氣體流量控制 | 保護(hù)氣：氬氣，3L/min | 保護(hù)氣：氬氣，3L/min | |
安全檢測 | 氬氣壓力檢測、冷卻水流量檢測、石墨爐溫度檢測 | 氬氣壓力檢測、冷卻水流量檢測、石墨爐溫度檢測 | |
石墨爐自動進(jìn)樣器 | |||
樣品杯個數(shù) | 60個（1.5mL杯），96孔酶標(biāo)板[選裝] | - | 60個（1.5mL杯），96孔酶標(biāo)板[選裝] |
基體改進(jìn)劑容器 | 5個（25mL杯） | 5個（25mL杯） | |
進(jìn)樣量 | 1至100μL | 1至100μL | |
進(jìn)樣體積重復(fù)性 | ≤1% RSD（5至100μL） | ≤1% RSD（5至100μL） | |
進(jìn)樣速度 | 5檔可選 | 5檔可選 | |
清洗溶液消耗量 | 1mL | 1mL | |
適用試劑 | 水溶液、乙醇、甲醇、丙酮、MIBK | 水溶液、乙醇、甲醇、丙酮、MIBK | |
樣品殘留 | ≤10-5（水溶液標(biāo)準(zhǔn)） | ≤10-5（水溶液標(biāo)準(zhǔn)） | |
加熱進(jìn)樣功能 | 有 | 有 | |
噴嘴清洗次數(shù) | 5次 | 5次 | |
樣品濃縮（爐內(nèi)） | 1至25倍 | 1至25倍 | |
樣品稀釋（爐內(nèi)） | 1至10倍 | 1至10倍 | |
數(shù)據(jù)處理 | |||
信號測量方法 | 積分、峰高、峰面積、峰寬 | ||
信號類型 | 塞曼校正、樣品道、參比道、火焰發(fā)射法 | ||
校準(zhǔn)曲線 | 標(biāo)準(zhǔn)試樣：多達(dá)10個點；標(biāo)準(zhǔn)曲線繪制：小二乘方法和牛頓法 | ||
數(shù)據(jù)處理 | 計算模式、峰寬截取技術(shù)、分析結(jié)s的刪除/恢復(fù)/置換、校正曲線回歸方程的轉(zhuǎn)換、樣品空白處理、校正曲線的回零校正、基線校正、統(tǒng)計計算（平均值、偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、相關(guān)系數(shù)）檢測限 | ||
質(zhì)控功能 | 樣品監(jiān)控（檢測限、重現(xiàn)性）、STD監(jiān)控、質(zhì)控樣品監(jiān)控、校準(zhǔn)曲線監(jiān)控、回收率監(jiān)控 | ||
參數(shù)/數(shù)據(jù)保存 | 檢測結(jié)果和檢測信號、參考信號、儀器狀態(tài)/錯誤信息 | ||
外形 寸（mm）/重量 | 1,100（W）x | 750（W）x | 750（W）x |
電源 | 220/230/240 V, | 115/220/230/240 V, 0.2 kVA, 50/60 Hz | 220/230/240 V, 6kVA, 50/60 Hz |
* | *電腦配置要求：IBM的PC/AT兼容機型，微軟Windows®XP操作系統(tǒng)。 | ||
* | Windows®是美國微軟公司的注冊商標(biāo) |
