電子器件沖擊箱|電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸zui小:W350mm*H400mm*D350mm(本公司還有眾多標(biāo)準(zhǔn)尺寸可選擇,也可定制非標(biāo)尺寸)
2.外箱尺寸:以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
3.高溫槽預(yù)熱溫度范圍:+60℃~200℃;
4.升溫時(shí)間: +60℃~200℃≤30min;
5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍: -75~-10℃;
6.降溫時(shí)間: +20℃~-75℃≤60min;﹙注:降溫時(shí)間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能﹚
7.試驗(yàn)方式: 氣動(dòng)風(fēng)門切換
8.溫度沖擊范圍: ﹙+60℃~+150℃﹚/﹙-65℃~-10℃﹚
9.溫度偏差: ±2.0℃
10.溫度波動(dòng)度: ±0.5℃
11溫度恢復(fù)時(shí)間: ≤5分鐘
12.試樣限制:本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易爆、易燃、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存;
電子器件沖擊箱|電子器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱破壞能力*,功率比普通高低溫試驗(yàn)箱高出許多倍。所以技術(shù)難度及成本也相對(duì)高許多。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,以及其元器件等各類產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在高溫與低溫瞬間變化條件下,對(duì)原產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬試驗(yàn),試驗(yàn)后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷相關(guān)產(chǎn)品的性能是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供各類產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。如有需要請(qǐng)生產(chǎn)廠家東莞市愛(ài)佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司,價(jià)格及質(zhì)量上有優(yōu)勢(shì),歡迎前來(lái)咨詢,謝謝。
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