XT-50型沖擊試樣缺口投影儀
一、產(chǎn)品介紹
XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比,以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格,其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,檢查對(duì)比直觀,效率高。
對(duì)于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn),由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格(試樣缺口深2mm、呈45º角且試樣缺口端要求R0.25±0.25),故在整個(gè)試驗(yàn)過程中,試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題,如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格,那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的,特別是R0.25mm缺口端的微小變化(其公差帶只有0.25mm)都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳,尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格,對(duì)缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。
二、技術(shù)參數(shù)
投影屏 | 200×200mm |
放大倍率 | 50X |
光源 | 12V 100W(鹵鎢燈)(Tungsten halogen lamp) |
試樣臺(tái)調(diào)節(jié) | 前、后、左、右、上、下、360°旋轉(zhuǎn) |
電源 | 200V 50HZ 200W |
外型尺寸 | 515×224×603mm |
重量 | 約18kg |