XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學儀器。是為準確檢查沖擊試樣的V型或U型缺口加工質(zhì)量而設(shè)計開發(fā)的光學儀器。將加工好的試樣缺口放大50倍并投影到觀察屏上，與刻在觀察屏上的標準圖板進行比對，即可快速判定檢測的沖擊試樣缺口加工是否合格；對比直觀，操作簡單，效率高。是理化試驗室的*設(shè)備。
二、工作原理：本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學元件投射在工作臺上，再通過一系列光學元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位*。
三、沖擊試樣缺口投影儀主要參數(shù)：
投影屏直徑：180mm工作臺尺寸：
方工作臺尺寸：110×125mm
圓工作臺直徑：90mm
工作臺玻璃直徑：70mm
工作臺行程：縱向：±10mm 橫向：±10mm 升降：±12mm（無刻度）
工作臺轉(zhuǎn)動范圍：0-360°（無刻度）
放大倍數(shù)：
儀器放大倍率：50X
物鏡放大倍率：2.5X
投影物鏡放大倍率：20X
光源（鹵鎢燈）：12V100W
外形尺寸：515×224×603mm（長×寬×高）
隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標準對試樣要求相當嚴格，所以在整個試驗過程中，試樣的加工是否合格會直接影響終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格，那么其試驗結(jié)果是不可信的，特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳，尤其是在試驗的臨界值時，會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)局。
為保證試樣缺口的合格，其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段，目前，用光學投影放大檢驗是切實可行的方法。約18Kg濟南時光還生產(chǎn)配套產(chǎn)品如：沖擊試驗機、沖擊試樣缺口拉床、沖擊試驗低溫槽等系列沖擊試驗產(chǎn)品。
